图学学报 ›› 2021, Vol. 42 ›› Issue (2): 165-173.DOI: 10.11996/JG.j.2095-302X.2021020165
摘要: 针对半导体芯片在激光打印时可能出现字符倾斜、字符位置错误等缺陷,提出一种基于改进凸 包检测的半导体芯片图像字符区域定位方法。首先,利用三轴图像采集平台采集多幅半导体芯片图像,切分提 取出若干单幅芯片图像;其次,采用 Harris 角点检测获取图像角点分布图,改进凸包检测算法,剔除非字符区 域角点,获取最外围角点凸包线;最后,拟合凸包线最小外接矩形,定位字符区域位置。实验结果表明,与形 态学滤波定位方法、基于边缘特征的定位方法、基于字符纹理特征的定位方法和基于凸包及最小外接矩的定位 方法相比,该方法定位芯片字符区域准确度更高,且单幅平均运行时间少于其他方法 1/2,可有效减少计算量, 提高运算效率。
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